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导致压敏电阻老化的原因
发布时间:2019-08-31        浏览次数:26        返回列表
 大家都知道任何一种电容器都有它的老化原因,这种原因往往也是我们在操作中不适当而增进了它的老化速度,本文跟大家谈谈压敏电阻的老化的问题。

导致压敏电阻老化的原因1.jpg

压敏电阻的老化是大多数情况下P-N结过载时会造成短路且不可回转至正常状态,在电冲击的反复多次作用下压敏电阻内的二极管元件被击穿。电阻体的低阻线性化逐步加剧,压敏电阻电压越来越低,漏电流越来越大,随着MOV本体温度的升高,漏电流更大,形成恶性循环,以至MOV的温度升高达到外包封材料的燃点。

这种情况称之为高阻抗短路(1kΩ左右),焦耳热使得MOV发热增加且集中流入薄弱点,薄弱点材料融化。形成1kΩ左右的短路孔后,电源继续推动一个较大的电流灌入短路点,形成高热而起火。研究结果表明,若压敏电阻存在着制造问题,易发生早期失效,强度不大的电冲击的反复多次作用,也会加速老化过程,使老化失效提早出现。

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